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Originaltitel:
Chromosomal location and molecular mapping of tan spot resistance genes in common wheat (T. aestivum L.)
Übersetzter Titel:
Chromosomen-Lokalisierung und molekulare Kartierung von Resistenzgenen gegen DTR-Blattflecken in Weizen (T. aestivum L.)
Autor:
Tadesse, Wuletaw
Jahr:
2007
Dokumenttyp:
Dissertation
Fakultät/School:
Fakultät Wissenschaftszentrum Weihenstephan
Betreuer:
Zeller, F.J. (Prof. Dr.)
Gutachter:
Wenzel, Gerhard (Prof. Dr. Dr. habil.)
Sprache:
en
Fachgebiet:
LAN Landbauwissenschaft
Schlagworte (SWD):
Weizen; Weizenblattdürre; Resistenzgen; Genkartierung
TU-Systematik:
LAN 220d; BIO 450d
Kurzfassung:
In this study, 75 cultivars highly resistant to tan spot were identified. A positive correlation (r = 0.864; P = 0.001) was found between seedling resistance and adult plant resistance. Inheritance of tan spot resistance was found to be qualitative goverened by single major genes. Three novel resistance genes: tsn3, tsn4 and tsn5 were identified and located on chromosomes 3D, 3A and 3B, respectively. Linkage analysis using SSR markers showed that both the tsn3 (tsn3a, Tsn3b and tsn3c) and tsn4...     »
Übersetzte Kurzfassung:
In der vorliegenden Arbeit wurden 75 Weizensorten, die hohe Resistenz gegenüber der DTR-Weizenblattdürre besitzen, identifiziert. Zwischen Keimlings- und Feldresistenz wurde eine positive Korrelation (r = 0.864; P = 0.001) nachgewiesen. Die Resistenz wird qualitativ vererbt und lässt sich auf wenige Gene zurückführen. Drei neue Resistenzgene: tsn3, tsn4 bzw. tsn5 wurden identifiziert und den Chromosomen 3D, 3A bzw. 3B zugeordnet. Kopplungsanalysen unter Verwendung von SSR- Markern haben gezeigt...     »
WWW:
https://mediatum.ub.tum.de/?id=621037
Eingereicht am:
29.06.2007
Mündliche Prüfung:
10.08.2007
Seiten:
113
Urn (Zitierfähige URL):
https://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:bvb:91-diss-20070610-621037-1-4
Letzte Änderung:
28.04.2008
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