Die vorliegende Arbeit behandelt iterativ lernende Regelverfahren für mehrkanalige Fahrzeugprüfstände. Durch die schrittweise Adaption der Vorgabesignale erfolgt eine Annäherung der Belastungen am Prüfstand an reale Fahrversuchsdaten. Die systembedingten Kanalkopplungen begründen Störeinflüsse, die das Regelverhalten beeinträchtigen und dadurch Prüflinge aufgrund vieler Iterationen stark vorbelasten. Die vorgestellten Verfahren beruhen auf einer modellbasierten Schätzung und Kompensation dieser Störeinflüsse mit dem Ziel, die Anzahl an Iterationen zu reduzieren.     «

Die vorliegende Arbeit behandelt iterativ lernende Regelverfahren für mehrkanalige Fahrzeugprüfstände. Durch die schrittweise Adaption der Vorgabesignale erfolgt eine Annäherung der Belastungen am Prüfstand an reale Fahrversuchsdaten. Die systembedingten Kanalkopplungen begründen Störeinflüsse, die das Regelverhalten beeinträchtigen und dadurch Prüflinge aufgrund vieler Iterationen stark vorbelasten. Die vorgestellten Verfahren beruhen auf einer modellbasierten Schätzung und Kompensation dieser...     »

This work deals with iterative learning control methods for multi-channel vehicle test rigs. With gradually adapting the rig input signals the mechanical loads of the test system converge to real test drive measurements. The channel couplings of these systems cause disturbances that degrade the control accuracy and require many iterative steps. Furthermore, these iterations cause preliminary stress loads to the device under test. The presented methods deal with a model based estimation and compensation of these disturbances in order to reduce the required number of iterations.     «

This work deals with iterative learning control methods for multi-channel vehicle test rigs. With gradually adapting the rig input signals the mechanical loads of the test system converge to real test drive measurements. The channel couplings of these systems cause disturbances that degrade the control accuracy and require many iterative steps. Furthermore, these iterations cause preliminary stress loads to the device under test. The presented methods deal with a model based estimation and compe...     »