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Original title:
Hyperspectral imaging microscopy for atomic layer mapping of two-dimensional materials
Translated title:
Hyperspektrale Bildgebungsmikroskopie zur atomaren Schichtkartierung zweidimensionaler Materialien
Author:
Dong, Xingchen
Year:
2021
Document type:
Dissertation
Faculty/School:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Advisor:
Koch, Alexander W. (Prof. Dr. habil. Dr. h.c.)
Referee:
Koch, Alexander W. (Prof. Dr. habil. Dr. h.c.); Ntziachristos, Vasilis (Prof. Dr.)
Language:
en
Subject group:
ELT Elektrotechnik
TUM classification:
MSR 050
Abstract:
This work studies the suitability of hyperspectral imaging microscopy for rapid and accurate atomic layer mapping of two-dimensional (2D) materials. A hyperspectral imaging system including a line-scan hyperspectral imaging microscope, system control, data acquisition, and data processing was custom built. A manual interpretation method based on hyperspectral library and spectral unmixing was developed for layer maps reconstruction with one-atomic-layer resolution. A deep fusion neural network b...     »
Translated abstract:
Diese Arbeit untersucht die Eignung der hyperspektralen Bildgebungsmikroskopie für die schnelle und genaue Kartierung der Atomschicht zweidimensionaler (2D) Materialien. Ein hyperspektrales Bildgebungssystem mit einem Hyperspektralbildmikroskop mit Zeilenscan, Systemsteuerung, Datenerfassung und Datenverarbeitung wurde speziell angefertigt. Eine manuelle Interpretationsmethode basierend auf hyperspektraler Bibliothek und spektraler Entmischung wurde für die Rekonstruktion von Schichtkarten mit e...     »
WWW:
https://mediatum.ub.tum.de/?id=1595791
Date of submission:
17.02.2021
Oral examination:
12.11.2021
File size:
9154653 bytes
Pages:
173
Urn (citeable URL):
https://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:bvb:91-diss-20211112-1595791-1-3
Last change:
24.01.2022
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