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Titel:

Impact and measurement of short term threshold instabilities in MOSFETs of analog circuits

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Art des Konferenzbeitrags:
Textbeitrag / Aufsatz
Autor(en):
Rott, K.; Schmitt-Landsiedel, D.; Reisinger, H.; Rott, G.; Schlünder, G. GeoG. Georgakos.; Aresu, S.; Grasser, T.
Kongress- / Buchtitel:
International Integrated Reliability Workshop
Jahr:
2012
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