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Autor(en):
Drapatz, S.; Hofmann, K.; Georgakos, G.; Schmitt-Landsiedel, D.
Titel:
Impact of fast-recovering NBTI degradation on stability of large-scale SRAM arrays
Seitenangaben Beitrag:
146 -149
Stichworte:
NBTI degradation; recovering NBTI; classical static noise margin; fast stability analysis; large-scale SRAM arrays; low power technology; negative bias temperature instability; read margin analysis; single-cell simulation; SRAM chips; circuit simulation; integrated circuit noise; low-power electronics; thermal stability
Kongress- / Buchtitel:
European Solid-State Device Research Conference
Jahr:
2010
Monat:
sep
Serientitel:
ESSDERC Proceedings
BibTeX
Vorkommen:
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