Benutzer: Gast  Login
Titel:

Reliable Piezoelectric FEM-Simulations of MEMS Microphones: Basis for Intrinsic Stress Reduction"

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Reutter, T.; Schrag, G.
Seitenangaben Beitrag:
pp. 193-196
Kongress- / Buchtitel:
Proceedings of the Ninth IEEE Sensors Conference
Kongress / Zusatzinformationen:
Nov. 1-4, 2010, Kona, Hawaii
Jahr:
2010
Reviewed:
ja
Sprache:
en
Format:
Text
 BibTeX