Login
- Title:
An in situ Timing Measurement Method for Reliability Diagnosis of Digital Circuits
- Author(s):
- Pour Aryan, Nasim; Wirnshofer, Martin; Schmitt-Landsiedel, Doris; Georgakos, Georg
- Book / Congress title:
- Zuverlässigkeit und Entwurf - 7. ITG/GI/GMM-Fachtagung
- Volume:
- Zuverlässigkeit und Entwurf (ITG-FB 244)
- Publisher address:
- Dresden
- Year:
- 2013
BibTeX