Die vorliegende Arbeit stellt ein neues Selbsttestverfahren für den Produktionstest von analogen und gemischt analog-digitalen integrierten Schaltungen vor. Es beruht auf der Verwendung eines auf der Delta-Sigma-Modulation basierten digitalen Verfahrens zur Generierung des erforderlichen analogen Testsignals. Außerdem wird ein auf dem Goertzel-Algorithmus basiertes digitales Verfahren zur Extraktion und Auswertung von Spezifikationsparametern verwendet. Einen zentralen Aspekt der Arbeit stellt die Untersuchung der Genauigkeit des Verfahrens dar. Anhand von zwei typischen gemischt analog-digitalen Schaltungen (Analog-Digital-Wandler, digital programmierbarer analoger Verstärker) wird die Leistungsfähigkeit des entwickelten Verfahrens demonstriert.     «

Die vorliegende Arbeit stellt ein neues Selbsttestverfahren für den Produktionstest von analogen und gemischt analog-digitalen integrierten Schaltungen vor. Es beruht auf der Verwendung eines auf der Delta-Sigma-Modulation basierten digitalen Verfahrens zur Generierung des erforderlichen analogen Testsignals. Außerdem wird ein auf dem Goertzel-Algorithmus basiertes digitales Verfahren zur Extraktion und Auswertung von Spezifikationsparametern verwendet. Einen zentralen Aspekt der Arbeit stellt d...     »

This dissertation presents a new built-in self-test (BIST) technique for the production testing of analog and mixed-signal integrated circuits. The proposed BIST technique uses a digital method based on delta-sigma modulation to generate a high-precision analog test stimulus. Furthermore, a digital method based on the Goertzel algorithm is used to extract and evaluate specification parameters on-chip. A main objective of this dissertation is the analysis of the accuracy of the evaluation algorithm. The efficiency of the proposed BIST technique is experimentally demonstrated with two typical mixed-signal integrated circuits (analog-digital-converter, digitally programmable analog amplifier).     «

This dissertation presents a new built-in self-test (BIST) technique for the production testing of analog and mixed-signal integrated circuits. The proposed BIST technique uses a digital method based on delta-sigma modulation to generate a high-precision analog test stimulus. Furthermore, a digital method based on the Goertzel algorithm is used to extract and evaluate specification parameters on-chip. A main objective of this dissertation is the analysis of the accuracy of the evaluation algorit...     »