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Document type:
Konferenzbeitrag 
Contribution type:
Vortrag / Präsentation 
Author(s):
Andreas Herkersdorf, Michael Engel, Michael Glaß, Jörg Henkel, Veit Kleeberger, Michael Kochte, Johannes Maximilian Kühn, Sani Nassif, Holm Rauchfuss, Wolfgang Rosenstiel, Ulf Schlichtmann, Muhammad Shafique, Mehdi Baradaran Tahoori, Jürgen Teich, Norbert Wehn, Christian Weis, Hans-Joachim Wunderlich 
Title:
Cross- Layer Dependability Modeling and Abstraction in Systems on Chip 
Keywords:
VirTherm 3D 
Dewey Decimal Classification:
620 Ingenieurwissenschaften 
Book / Congress title:
Workshop on Silicon Errors in Logic – System Effects (SELSE) 
Year:
2013 
Year / month:
2013-03 
Month:
Mar 
Language:
en 
TUM Institution:
Lehrstuhl für Integrierte Systeme