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- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- Holzbaur, Lukas; Puchinger, Sven; Yaakobi, Eitan; Wachter-Zeh, Antonia
- Titel:
- Correctable Erasure Patterns in Product Topologies
- Kongress- / Buchtitel:
- 2021 IEEE International Symposium on Information Theory (ISIT)
- Verlag / Institution:
- IEEE
- Publikationsdatum:
- 12.07.2021
- Jahr:
- 2021
- Volltext / DOI:
- doi:10.1109/isit45174.2021.9518208
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