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Titel:

{Gate-Level-Accurate Fault-Effect Analysis at Virtual-Prototype Speed}

Autor(en):
Tabacaru, Bogdan Andrei; Chaari, Moomen; Ecker, Wolfgang; Kruse, Thomas; Novello, Cristiano
Zeitschriftentitel:
ERCIM/EWICS/ARTEMIS Workshop on ``Dependable Embedded and Cyber-physical Systems and Systems-of-Systems'' (DECSoS'16)
Jahr:
2016
Seitenangaben Beitrag:
1--13
Volltext / DOI:
doi:10.1007/978-3-319-45480-1_12
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