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- Title:
Messen von kleinen Verformungen an CFK-Proben bei Tieftemperatur
- Document type:
- Konferenzbeitrag
- Author(s):
- Haberle,T.; Baier,H.
- Dewey Decimal Classification:
- 620 Ingenieurwissenschaften
- Book / Congress title:
- DGLR-Jahrestagung 2000
- Date of congress:
- September 19.-21.
- Year:
- 2000
- Month:
- Jan
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