Die Arbeit stellt eine neue Methode zur Temperatur-Kompensation von Bulk Acoustic Wave (BAW) Resonatoren vor. Durch Einbringung von sehr dünnen (30-70-nm) SiO2-Schichten in Bereiche hoher Druckbelastung innerhalb des Resonators wurden Temperaturkoeffizienten von -10 ppm /˚C bis +12 ppm /˚C erreicht. Mit einer Schicht von nur 32 nm in 1180 nm AlN konnte eine vollständige Temperaturkompensation bei weniger als 1 ppm / ˚ C erzielt werden. Dank dieser deutlichen Reduzierung der SiO2-Dicke gegenüber dem Stand der Technik wurde eine Verbesserung des Kopplungskoeffizienten um mehr als 200% erreicht.
Die thermischen Eigenschaften von dünnen SiO2-Schichten wurden ebenfalls experimentell untersucht, und es ergab sich, dass sie deutlich von den aus der Literatur bekannten Volumenwerten abweichen. Die experimentellen Daten weisen darauf hin, dass der Temperaturkoeffizient des Elastizitätsmoduls von SiO2 für dünnere SiO2-Schichten abnimmt.
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