Correctable Erasure Patterns in Product Topologies

Holzbaur, Lukas; Puchinger, Sven; Yaakobi, Eitan; Wachter-Zeh, Antonia

doi:10.1109/isit45174.2021.9518208

Titel:: Correctable Erasure Patterns in Product Topologies
Dokumenttyp:: Konferenzbeitrag
Autor(en):: Holzbaur, Lukas; Puchinger, Sven; Yaakobi, Eitan; Wachter-Zeh, Antonia
Kongress- / Buchtitel:: 2021 IEEE International Symposium on Information Theory (ISIT)
Verlag / Institution:: IEEE
Publikationsdatum:: 12.07.2021
Jahr:: 2021
Volltext / DOI:: doi:10.1109/isit45174.2021.9518208
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