X‐ray Grating Interferometry at ESRF: Applications and Recent Technical Developments

Titel:: X‐ray Grating Interferometry at ESRF: Applications and Recent Technical Developments
Dokumenttyp:: Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):: Weitkamp, T.; Zanette, I.; Schulz, G.; Bech, M.; Rutishauser, S.; Lang, S.; Donath, T.; Tapfer, A.; Deyhle, H.; Bernard, P.; Valade, J.‐P.; Reznikova, E.; Kenntner, J.; Mohr, J.; Müller, B.; Pfeiffer, F.; David, C.; Baruchel, J.
Zeitschriftentitel:: AIP Conference Proceedings
Jahr:: 2011
Band / Volume:: 1365
Seitenangaben Beitrag:: 28-31
Volltext / DOI:: doi:10.1063/1.3625297
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