Direct dark matter search with CRESST and EURECA

Roth, S.; Angloher, G.; Bauer, M.; Bavykina, I.; Bento, A.; Brown, A.; Bucci, C.; Ciemniak, C.; Coppi, C.; Deuter, G.; Erb, A.; Feilitzsch, F.v.; Gütlein, A.; Hauff, D.; Henry, S.; Hofmann, M.; Huff, P.; Imber, J.; Ingelby, S.; Isaila, C.; Jochum, J.; Kiefer, M.; Kimmerle, M.; Kraus, H.; Lachenmaier, T.; Lanfranchi, J.-C.; Lang, R.F.; Majorovits, B.; Malek, M.; McGowan, R.; Mikhailik, V.; Pantic, E.; Petricca, F.; Pfister, S.; Potzel, W.; Pröbst, F.; Rottler, K.; Sailer, C.; Schäffner, K.; Schmaler, J.; Scholl, S.; Seidel, W.; Sivers, M.v.; Stodolsky, L.; Strauss, R.; Tolhurst, A.J.B.; Usherov, I.; Westphal, W.     «

Roth, S.; Angloher, G.; Bauer, M.; Bavykina, I.; Bento, A.; Brown, A.; Bucci, C.; Ciemniak, C.; Coppi, C.; Deuter, G.; Erb, A.; Feilitzsch, F.v.; Gütlein, A.; Hauff, D.; Henry, S.; Hofmann, M.; Huff, P.; Imber, J.; Ingelby, S.; Isaila, C.; Jochum, J.; Kiefer, M.; Kimmerle, M.; Kraus, H.; Lachenmaier, T.; Lanfranchi, J.-C.; Lang, R.F.; Majorovits, B.; Malek, M.; McGowan, R.; Mikhailik, V.; Pantic, E.; Petricca, F.; Pfister, S.; Potzel, W.; Pröbst, F.; Rottler, K.; Sailer, C.; Schäffner, K.; Schma...     »