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Titel:

Fault Localization in Programmable Microfluidic Devices

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Bernardini, Alessandro; Liu, Chunfeng; Li, Bing; Schlichtmann, Ulf
Kongress- / Buchtitel:
2019 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
Verlag / Institution:
IEEE
Publikationsdatum:
01.03.2019
Jahr:
2019
Print-ISBN:
9783981926323
Volltext / DOI:
doi:10.23919/date.2019.8715023
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