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Titel:

Feature-Based State Space Coverage Metric for Analog Circuit Verification

Autor(en):
Fürtig, Andreas; Steinhorst, Sebastian; Hedrich, Lars
Seitenangaben Beitrag:
83-101
Herausgeber:
Fummi, Franco; Wille, Robert
Buchtitel:
Languages, Design Methods, and Tools for Electronic System Design: Selected Contributions from FDL 2016
Verlag / Institution:
Springer International Publishing
Jahr:
2018
Monat:
Jan
Print-ISBN:
978-3-319-62920-9
DOI:
doi:10.1007/978-3-319-62920-9_5
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