Pfeiffer, Franz (Prof. Dr.); Haase, Axel (Prof. Dr.)
Language:
en
Subject group:
PHY Physik
TUM classification:
PHY 820d; MED 280d
Abstract:
In this work, we present a theoretical framework for grating-based X-ray dark-field imaging. This framework is based on the mathematical formalism of small-angle scattering, and relates the dark-field signal to physical quantities such as the microstructure's form- and structure-factor. Furthermore, application examples of dark-field imaging in materials research are presented, including studies on cement-based building materials and fiber reinforced composites.
Translated abstract:
In dieser Arbeit wird ein theoretisches Modell für die gitterbasierte Röntgendunkelfeldbildgebung vorgestellt. Das Modell wird aus den theoretischen Grundlagen der Kleinwinkelstreuung entwickelt und erlaubt es, mit Hilfe des Dunkelfeldsignales, Mikrostruktureigenschaften wie den Form- und Strukturfaktor zu untersuchen. Zudem werden Anwendungsbeispiele in den Materialwissenschaften vorgestellt. Dies umfasst Studien an zementbasierten Materialien sowie faserverstärkten Verbundwerkstoffen.