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- Titel:
Comparative Study of Contact Topographies of 4,5 kV SiC MPS Diodes for Optimizing the Forward Characteristics
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- Huang, Y.; Wachutka, G.
- Seitenangaben Beitrag:
- 117-120
- Kongress- / Buchtitel:
- Proceedings of Simulation of Semiconductor Processes and Devices
- Jahr:
- 2016
- Sprache:
- en
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