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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag 
Autor(en):
Erol Koser, Sebastian Krösche, Walter Stechele 
Titel:
Integrated Soft Error Resilience and Self-Test 
Stichworte:
RELY 
Dewey-Dezimalklassifikation:
620 Ingenieurwissenschaften 
Kongress- / Buchtitel:
IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) 2016 
Datum der Konferenz:
September 26-28 
Jahr:
2016 
Jahr / Monat:
2016-09 
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Integrierte Systeme