High-Resolution Scanning X-ray Diffraction Microscopy

Titel:: High-Resolution Scanning X-ray Diffraction Microscopy
Autor(en):: Thibault, P.; Dierolf, M.; Menzel, A.; Bunk, O.; David, C.; Pfeiffer, F.
Zeitschriftentitel:: Science
Jahr:: 2008
Band / Volume:: 321
Heft / Issue:: 5887
Seitenangaben Beitrag:: 379-382
Volltext / DOI:: doi:10.1126/science.1158573
Verlag / Institution:: American Association for the Advancement of Science (AAAS)
Publikationsdatum:: 18.07.2008
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