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- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- Jaenichen, F.-M.; Liepold, C. J.; Ismail, A.; Schiffer, M.; Ehm, H.
- Nicht-TUM Koautoren:
- ja
- Kooperation:
- national
- Titel:
- Disruption Evaluation in End-to-End Semiconductor Supply Chains via Interpretable Machine Learning
- Intellectual Contribution:
- Contribution to Practice
- Kongress- / Buchtitel:
- 10th IFAC Conference on Manufacturing Modelling, Management and Control MIM 2022
- Kongress / Zusatzinformationen:
- Nantes, France
- Jahr:
- 2022
- Monat:
- Jun
- Volltext / DOI:
- doi:doi.org/10.1016/j.ifacol.2022.09.479
- Key publication:
- Nein
- Peer reviewed:
- Ja
- International:
- Ja
- commissioned:
- not commissioned
- Interdisziplinarität:
- Ja
- Leitbild:
- ;
- Technology:
- Ja
- Ethics und Sustainability:
- Nein
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