X‐ray Stain Localization with Near‐Field Ptychographic Computed Tomography

Titel:: X‐ray Stain Localization with Near‐Field Ptychographic Computed Tomography
Dokumenttyp:: Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):: Taphorn, Kirsten; Busse, Madleen; Brantl, Johannes; Günther, Benedikt; Diaz, Ana; Holler, Mirko; Dierolf, Martin; Mayr, Doris; Pfeiffer, Franz; Herzen, Julia
Zeitschriftentitel:: Advanced Science
Jahr:: 2022
Seitenangaben Beitrag:: 2201723
Volltext / DOI:: doi:10.1002/advs.202201723
Verlag / Institution:: Wiley
E-ISSN:: 2198-38442198-3844
Publikationsdatum:: 24.06.2022
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