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Titel:

Coherent grazing exit x-ray scattering geometry for probing the structure of thin films

Autor(en):
Pfeiffer, Franz; Zhang, Wei; Robinson, Ian K.
Zeitschriftentitel:
Appl. Phys. Lett.
Jahr:
2004
Band / Volume:
84
Heft / Issue:
11
Seitenangaben Beitrag:
1847
Volltext / DOI:
doi:10.1063/1.1669061
Verlag / Institution:
AIP Publishing
Publikationsdatum:
01.01.2004
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