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- Titel:
Ptychographic characterization of the wavefield in the focus of reflective hard X-ray optics
- Autor(en):
- Kewish, Cameron M.; Thibault, Pierre; Dierolf, Martin; Bunk, Oliver; Menzel, Andreas; Vila-Comamala, Joan; Jefimovs, Konstantins; Pfeiffer, Franz
- Zeitschriftentitel:
- Ultramicroscopy
- Jahr:
- 2010
- Band / Volume:
- 110
- Seitenangaben Beitrag:
- 325-329
- Volltext / DOI:
- doi:10.1016/j.ultramic.2010.01.004
- Verlag / Institution:
- Elsevier BV
- Publikationsdatum:
- 01.03.2010
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