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- Autor(en):
- Rutishauser, Simon; Zanette, Irene; Weitkamp, Timm; Donath, Tilman; David, Christian
- Titel:
- At-wavelength characterization of refractive x-ray lenses using a two-dimensional grating interferometer
- Zeitschriftentitel:
- Appl. Phys. Lett.
- Jahr:
- 2011
- Band / Volume:
- 99
- Heft / Issue:
- 22
- Seitenangaben Beitrag:
- 221104
- Volltext / DOI:
- doi:10.1063/1.3665063
- Verlag / Institution:
- AIP Publishing
- Publikationsdatum:
- 01.01.2011
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