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Autor(en):
Bunk, Oliver; Pfeiffer, Franz; Stampanoni, Marco; Patterson, Bruce D.; Schulze-Briese, Clemens; David, Christian
Titel:
X-ray beam-position monitoring in the sub-micrometre and sub-second regime
Zeitschriftentitel:
J Synchrotron Radiat
Jahr:
2005
Band / Volume:
12
Seitenangaben Beitrag:
795-799
Volltext / DOI:
doi:10.1107/s0909049505028189
Verlag / Institution:
International Union of Crystallography (IUCr)
Publikationsdatum:
18.10.2005
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