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- Titel:
X-Ray Diffraction Microscopy
- Autor(en):
- Thibault, Pierre; Elser, Veit
- Zeitschriftentitel:
- Annu. Rev. Condens. Matter Phys.
- Jahr:
- 2010
- Seitenangaben Beitrag:
- 237-255
- Volltext / DOI:
- doi:10.1146/annurev-conmatphys-070909-104034
- Verlag / Institution:
- Annual Reviews
- Publikationsdatum:
- 10.08.2010
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