A common method to measure the shape of optically rough surfaces is the Electronic Speckle-Pattern Interferometry (ESPI). In ESPI, the shape is reconstructed by means of characteristic fringe patterns which are similar to a contour map. In the event that the combination of the surface shape and the measuring wavelengths results in either too high or too low local fringe densities, ESPI is at its limits. By using wavefront generators, the fringe density of the fringe pattern can be manipulated locally. In the present study, the physical limits and the feasibility of this method are analyzed theoretically and experimentally.     «

A common method to measure the shape of optically rough surfaces is the Electronic Speckle-Pattern Interferometry (ESPI). In ESPI, the shape is reconstructed by means of characteristic fringe patterns which are similar to a contour map. In the event that the combination of the surface shape and the measuring wavelengths results in either too high or too low local fringe densities, ESPI is at its limits. By using wavefront generators, the fringe density of the fringe pattern can be manipulated lo...     »

Die elektronische Speckle-Pattern Interferometrie (ESPI) ist eine verbreitete Methode für die Formvermessung von optisch rauen Oberflächen. Die Form wird hier aus Streifenmustern, ähnlich einer Höhenlinienkarte, rekonstruiert. Wenn durch die Kombination der Oberflächenform und der Messwellenlängen lokal entweder zu hohe oder zu niedrige Streifendichten entstehen, stößt die ESPI an ihre Grenzen. Durch den Einsatz von Wellenfrontgeneratoren können die Streifenmuster manipuliert und die Streifendichte lokal angepasst werden. In dieser Arbeit werden die physikalischen Grenzen und die Machbarkeit dieser Methode theoretisch und experimentell analysiert.     «

Die elektronische Speckle-Pattern Interferometrie (ESPI) ist eine verbreitete Methode für die Formvermessung von optisch rauen Oberflächen. Die Form wird hier aus Streifenmustern, ähnlich einer Höhenlinienkarte, rekonstruiert. Wenn durch die Kombination der Oberflächenform und der Messwellenlängen lokal entweder zu hohe oder zu niedrige Streifendichten entstehen, stößt die ESPI an ihre Grenzen. Durch den Einsatz von Wellenfrontgeneratoren können die Streifenmuster manipuliert und die Streifendic...     »