Electron and gamma background in CRESST detectors

Lang, R.F.; Angloher, G.; Bauer, M.; Bavykina, I.; Bento, A.; Brown, A.; Bucci, C.; Ciemniak, C.; Coppi, C.; Deuter, G.; Feilitzsch, F. von; Hauff, D.; Henry, S.; Huff, P.; Imber, J.; Ingleby, S.; Isaila, C.; Jochum, J.; Kiefer, M.; Kimmerle, M.; Kraus, H.; Lanfranchi, J.-C.; Majorovits, B.; Malek, M.; McGowan, R.; Mikhailik, V.B.; Pantic, E.; Petricca, F.; Pfister, S.; Potzel, W.; Pröbst, F.; Roth, S.; Rottler, K.; Sailer, C.; Schäffner, K.; Schmaler, J.; Scholl, S.; Seidel, W.; Stodolsky, L.; Tolhurst, A.J.B.; Usherov, I.; Westphal, W.     «

Lang, R.F.; Angloher, G.; Bauer, M.; Bavykina, I.; Bento, A.; Brown, A.; Bucci, C.; Ciemniak, C.; Coppi, C.; Deuter, G.; Feilitzsch, F. von; Hauff, D.; Henry, S.; Huff, P.; Imber, J.; Ingleby, S.; Isaila, C.; Jochum, J.; Kiefer, M.; Kimmerle, M.; Kraus, H.; Lanfranchi, J.-C.; Majorovits, B.; Malek, M.; McGowan, R.; Mikhailik, V.B.; Pantic, E.; Petricca, F.; Pfister, S.; Potzel, W.; Pröbst, F.; Roth, S.; Rottler, K.; Sailer, C.; Schäffner, K.; Schmaler, J.; Scholl, S.; Seidel, W.; Stodolsky, L.;...     »