Auf der Suche nach thermoelektrischen Materialien stellen die Clathratverbindungen der Gruppe 14 (Si, Ge, Sn) eine wichtige Verbindungsklasse dar. In den Einschlussverbindungen bilden die Elemente Si, Ge oder Sn Käfige mit kovalent verknüpften Atomen aus. Die Verbindungen sind als „halbleitende“ Clathrate bekannt und ihre elektronischen Eigenschaften hängen stark von möglichen Substitutionen ab. Diese Arbeit behandelt die Synthese, Charakterisierung und physikalischen Eigenschaften von Typ-I Clathraten. Die Verbindungen lassen sich in zwei Gruppen einteilen: a) RbxCs8–xSn44 (0 ≤ x ≤ 8), b) A8Hg4Sn42 und A8Hg3Ge43 (A = K, Rb, Cs). Die Struktur wird mittels Multitemperatur-Diffraktometrie sowie Raman und Sn-Mössbauer Spektroskopie untersucht. Die physikalischen Eigenschaften werden mittels thermischer Analyse, magnetischer und thermoelektrischer Messungen untersucht. Der Zusammenhang zwischen Struktur und Eigenschaften wird diskutiert.
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Auf der Suche nach thermoelektrischen Materialien stellen die Clathratverbindungen der Gruppe 14 (Si, Ge, Sn) eine wichtige Verbindungsklasse dar. In den Einschlussverbindungen bilden die Elemente Si, Ge oder Sn Käfige mit kovalent verknüpften Atomen aus. Die Verbindungen sind als „halbleitende“ Clathrate bekannt und ihre elektronischen Eigenschaften hängen stark von möglichen Substitutionen ab. Diese Arbeit behandelt die Synthese, Charakterisierung und physikalischen Eigenschaften von Typ-I Cla...
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