Der Entwurf von Analog- und Mixed-Signal Schaltungen in neuartigen high-k und Multi-Gate CMOS Technologien wird untersucht. Die vorgeschlagene Modellierung des neu auftretenden Effekts zeitabhängiger Einsatzspannungen ermöglicht eine systematische Analyse der Auswirkungen auf Schaltungsebene, sowie die Entwicklung von Gegenmaßen zur Kompensation von Performance-Einbußen. Die durch günstige Transistoreigenschaften ermöglichten Performance- und Flächenvorteile werden anhand von Referenzschaltungen, Operationsverstärkern und D/A-Wandlern analytisch und messtechnisch quantifiziert. Erstmals in Multi-Gate CMOS realisierte, komplexe mixed-signal Schaltungen wie PLL und D/A-Wandler zeigen vielversprechende Performance. Die vorgeschlagene Integration von Tunnel-Transistoren in diesen Prozess ermöglicht Bauelemente mit aussichtsreichen Skalierungs- und Analogeigenschaften. Eine daraufhin optimierte Referenz-Schaltung erreicht hohe Stabilität bei geringer Leistungsaufnahme.
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