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Titel:

Kinetic Monte Carlo simulation analysis of the conductance drift in Multilevel HfO2-based RRAM devices

Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Maldonado, D. ; Baroni, A. ; Aldana, S. ; Dorai Swamy Reddy, K. ; Pechmann, S. ; Wenger, C. ; Roldán, J. B. ; Pérez, E.
Zeitschriftentitel:
Nanoscale
Jahr:
2024
Band / Volume:
16
Heft / Issue:
40
Seitenangaben Beitrag:
19021-19033
Volltext / DOI:
doi:10.1039/d4nr02975e
Verlag / Institution:
The Royal Society of Chemistry
E-ISSN:
2040-3364 ; 2040-3372
Publikationsdatum:
11.09.2024
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