- Titel:
Probing the Spatial Homogeneity of Exfoliated HfTe5 Films
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenaufsatz
- Autor(en):
- Singh, MaanwinderP. ; Dong, Qingxin ; Chen, Gen-Fu ; Holleitner, Alexander W. ; Kastl, Christoph
- Stichworte:
- Article ; van der Waals materials ; Raman microscopy ; strain ; topological insulator ; disorder
- Zeitschriftentitel:
- ACS Nano
- Jahr:
- 2024
- Band / Volume:
- 18
- Heft / Issue:
- 28
- Seitenangaben Beitrag:
- 18327-18333
- Volltext / DOI:
- doi:10.1021/acsnano.4c02081
- Verlag / Institution:
- American Chemical Society
- E-ISSN:
- 1936-0851 ; 1936-086X
- Publikationsdatum:
- 03.07.2024
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