- Titel:
Multispectral Microscopic Multiplexed (3m) Imaging of Atomically-Thin Crystals Using Deep Learning
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenaufsatz
- Autor(en):
- Dong, Xingchen ; Li, Hongwei ; Wang, Kun ; Menze, Bjoern ; Jakobi, Martin ; Yetisen, Ali K. ; Koch, Alexander W.
- Stichworte:
- Research Article ; Research Articles ; atomically thin materials ; deep learning ; image restoration ; layer number identification ; multispectral imaging
- Zeitschriftentitel:
- Advanced Optical Materials
- Jahr:
- 2023
- Band / Volume:
- 12
- Heft / Issue:
- 2
- Volltext / DOI:
- doi:10.1002/adom.202300860
- E-ISSN:
- 2195-1071
- Publikationsdatum:
- 18.06.2023
BibTeX
Login
