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Titel:

Revealing the Negative Capacitance Effect in Silicon Quantum Dot Light-Emitting Diodes via Temperature-Dependent Capacitance-Voltage Characterization

Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Mock, J.; Kallergi, M.; Gros, E.; Golibrzuch, M.; Rieger, B.; Becherer, M.
Zeitschriftentitel:
IEEE Photonics Journal
Jahr:
2022
Band / Volume:
14
Heft / Issue:
4
Seitenangaben Beitrag:
1-9
Volltext / DOI:
doi:10.1109/jphot.2022.3184401
Verlag / Institution:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
E-ISSN:
1943-06551943-0647
Publikationsdatum:
01.08.2022
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