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- Titel:
Study of Systematic Bias in Measuring Surface Deformation With SAR Interferometry
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenaufsatz
- Autor(en):
- Ansari, Homa; De Zan, Francesco; Parizzi, Alessandro
- Zeitschriftentitel:
- IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing
- Jahr:
- 2021
- Band / Volume:
- 59
- Heft / Issue:
- 2
- Seitenangaben Beitrag:
- 1285-1301
- Volltext / DOI:
- doi:10.1109/tgrs.2020.3003421
- Verlag / Institution:
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- E-ISSN:
- 0196-28921558-0644
- Publikationsdatum:
- 01.02.2021
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