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Titel:

Deep Phenotyping of Yield-Related Traits in Wheat

Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Prey, Lukas; Schmidhalter, Urs
Zeitschriftentitel:
Agronomy
Jahr:
2020
Band / Volume:
10
Heft / Issue:
4
Seitenangaben Beitrag:
603
Volltext / DOI:
doi:10.3390/agronomy10040603
Verlag / Institution:
MDPI AG
E-ISSN:
2073-4395
Publikationsdatum:
23.04.2020
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