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Titel:

Measurement of QCM Mass Sensitivity Based on Electrodeposition

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Hu, Jianguo; Huang, Xianhe; Hu, Jianguo; Knoll, Alois
Seitenangaben Beitrag:
1-2
Kongress- / Buchtitel:
2020 IEEE International Conference on Applied Superconductivity and Electromagnetic Devices (ASEMD)
Verlag / Institution:
IEEE
Publikationsdatum:
16.10.2020
Jahr:
2020
Volltext / DOI:
doi:10.1109/asemd49065.2020.9276091
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