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Titel:

A Cross-Layer Technology-Based Study of How Memory Errors Impact System Resilience

Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Veit Kleeberger, Christina Gimmler-Dumont, Christian Weis, Andreas Herkersdorf, Daniel Mueller- Gritschneder, Sani Nassif, Ulf Schlichtmann, Norbert Wehn
Stichworte:
VirTherm 3D
Dewey Dezimalklassifikation:
620 Ingenieurwissenschaften
Zeitschriftentitel:
IEEE Micro
Jahr:
2013
Band / Volume:
Volume 33
Jahr / Monat:
2013-07
Monat:
Jul
Heft / Issue:
Number 4
Sprache:
en
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Integrierte Systeme
Format:
Text
 BibTeX