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Titel:

Sensitivity of TE double-negative metamaterial optical sensor

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
El-Khozondar, H.J.; Müller, M.S.; El-Khozondar, R.J.; Shabat, M.M.; Koch, A.W.
Kongress- / Buchtitel:
Proceedings of the SPIE Europe Optical Metrology Conference
Kongress / Zusatzinformationen:
ICM-International Conference Centre Munich, 14.-18.06.2009, Munich, Germany
Jahr:
2009
Sprache:
en
Format:
Text
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