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- Titel:
Test structures for SRAM cell and device variability and the statistics of NBTI degradation
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Art des Konferenzbeitrags:
- Vortrag / Präsentation
- Autor(en):
- Fischer, Thomas; Amirante, Ettore; Hofmann, Karl; Ostermayr, Martin; Huber, Peter; Schmitt-Landsiedel, Doris
- Kongress- / Buchtitel:
- Workshop on Variation Test Structures at ICCAD
- Kongress / Zusatzinformationen:
- San Jose, USA
- Publikationsdatum:
- 13.11.2008
- Jahr:
- 2008
- Sprache:
- en
- TUM Einrichtung:
- Lehrstuhl für Technische Elektronik
- Format:
- Text
BibTeX