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- Titel:
"Testing semiconductor devices at extremly high operating temperatures"
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenaufsatz
- Autor(en):
- Borthen, P.; Wachutka, G.
- Zeitschriftentitel:
- Microelectronics Reliability
- Jahr:
- 2008
- Band / Volume:
- Vol 28, issues 8-9, special issue ESREF 2008
- Seitenangaben Beitrag:
- pp.1440-1443
- Reviewed:
- ja
- Sprache:
- en
- Verlag / Institution:
- Elsevier
- Semester:
- SS 02
- Format:
- Text
BibTeX