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Titel:

Characterisation of Semiconductor Devices at Very High Temperatures

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Art des Konferenzbeitrags:
Vortrag / Präsentation
Autor(en):
Borthen, P.; Wachutka, G.,
Seitenangaben Beitrag:
pp. 71-74
Kongress- / Buchtitel:
7th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems - ASDAM ´08
Kongress / Zusatzinformationen:
12.10.2008 - 16.10.2008, Smolenice Castle, Slovakia
Jahr:
2008
Sprache:
de
Format:
Text
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