Characterization of interfacial bonding strength at Al(Si)/diamond interfaces by neutron diffraction: Effect of diamond surface termination and processing conditions

Benutzer: Gast

Titel:: Characterization of interfacial bonding strength at Al(Si)/diamond interfaces by neutron diffraction: Effect of diamond surface termination and processing conditions
Dokumenttyp:: Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):: Edtmaier, Christian; Segl, Jakob; Koos, Robert; Schöbel, Michael; Feldbaumer, Christoph
Zeitschriftentitel:: Diamond and Related Materials
Jahr:: 2020
Band / Volume:: 106
Seitenangaben Beitrag:: 107842
Volltext / DOI:: doi:10.1016/j.diamond.2020.107842
Verlag / Institution:: Elsevier BV
E-ISSN:: 0925-9635
Publikationsdatum:: 01.06.2020
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