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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Knapp, Josef; Morelli, Roberto; Eibert, Thomas F.
Titel:
Accurate {Far}-field {Pattern} {Reconstruction} from {Near}-field {Meaurements} with {Inconvenient} {Probes}
Kongress- / Buchtitel:
Progress {In} {Electromagnetic} {Research} {Symposium} ({PIERS})
Verlagsort:
Toyama, Japan
Jahr:
2018
Monat:
aug
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