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Titel:

X-Ray Near-Field Ptychography for Optically Thick Specimens

Autor(en):
Stockmar, Marco; Zanette, Irene; Dierolf, Martin; Enders, Bjoern; Clare, Richard; Pfeiffer, Franz; Cloetens, Peter; Bonnin, Anne; Thibault, Pierre
Zeitschriftentitel:
Physical Review Applied
Jahr:
2015
Band / Volume:
3
Heft / Issue:
1
Volltext / DOI:
doi:10.1103/physrevapplied.3.014005
Verlag / Institution:
American Physical Society (APS)
E-ISSN:
2331-7019
Publikationsdatum:
21.01.2015
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