Benutzer: Gast  Login
Titel:

Correlation of X-Ray Dark-Field Radiography to Mechanical Sample Properties

Autor(en):
Malecki, Andreas; Eggl, Elena; Schaff, Florian; Potdevin, Guillaume; Baum, Thomas; Garcia, Eduardo Grande; Bauer, Jan S.; Pfeiffer, Franz
Zeitschriftentitel:
Microscopy and Microanalysis
Jahr:
2014
Band / Volume:
20
Heft / Issue:
05
Seitenangaben Beitrag:
1528-1533
Volltext / DOI:
doi:10.1017/s1431927614001718
Verlag / Institution:
Cambridge University Press (CUP)
Publikationsdatum:
01.07.2014
 BibTeX