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Titel:

Virtual Double Pulse Tests to Reduce Measuring Time and Effort in Semiconductor Loss Modeling

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Goldmann, Daniel; Schramm, Simon; Galek, Marek; Herzog, Hans-Georg
Seitenangaben Beitrag:
1–7
Kongress- / Buchtitel:
PCIM Europe 2019; International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management
Verlag / Institution:
VDE Verlag
Verlagsort:
Berlin, Germany
Jahr:
2019
Jahr / Monat:
2019-05
Monat:
May
Print-ISBN:
978-3-8007-4938-6
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